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La unidad de inserción de fallos (FIU) PXIe-2514 está diseñada para aplicaciones HIL (hardware-in-the-loop) y pruebas de fiabilidad electrónica. Cada módulo tiene un conjunto de canales de suministro que se pueden abrir o cortocircuitar a uno o más buses de fallos. Puede utilizar esta arquitectura para simular conexiones abiertas o interrumpidas así como cortocircuitos entre pines, tensiones de batería y tierra por cada canal individual. Cuando se controla con el módulo LabVIEW Real-Time, la PXI-2510 resulta ideal para validar la integridad de sistemas de control incluyendo unidades de control de motor (ECUs) y controles de motor digital de autoridad completa (FADECs).