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CT4079-NA
DIFFERENTIAL PROBE, 200:1/2000:1, 50MHZ
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FabricanteCAL TEST ELECTRONICS
Referencia del fabricanteCT4079-NA
Código Farnell2850363
Hoja de datos técnicos
Fuera de producción
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Información del producto
FabricanteCAL TEST ELECTRONICS
Referencia del fabricanteCT4079-NA
Código Farnell2850363
Hoja de datos técnicos
Función de la Sonda del OsciloscopioHigh-Voltage Differential Probe
Ancho de Banda50MHz
Tensión de Entrada Máx.15kV
Atenuación de Sonda de Prueba200:1, 2000:1
Para Usar ConOscilloscopes
Gama de Producto-
Especificaciones técnicas
Función de la Sonda del Osciloscopio
High-Voltage Differential Probe
Tensión de Entrada Máx.
15kV
Para Usar Con
Oscilloscopes
Ancho de Banda
50MHz
Atenuación de Sonda de Prueba
200:1, 2000:1
Gama de Producto
-
Documentos técnicos (2)
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Legislación y medioambiente
País de origen:
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producciónPaís de origen:Taiwan
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producción
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producciónPaís de origen:Taiwan
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producción
N.º de tarifa90309000
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
Conforme a RoHS:Sí
RoHS
Conforme a la directiva RoHS sobre de ftalatos:Sí
RoHS
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Certificado de conformidad del producto
Peso (kg):.9072