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923660-24
ABRAZADERA DE TEST, SOIC, 24VÍAS
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Fabricante3M
Referencia del fabricante923660-24
Código Farnell178283
También conocido comoGTIN UPC EAN: 00054007801023 80610336093
Hoja de datos técnicos
Disponible para pedido
Plazo de entrega estándar del fabricante: 28 semanas
| Cantidad | Precio (sin IVA) |
|---|---|
| 25+ | 19,670 € |
Precio para:Cada
Mínimo: 25
Múltiplo: 25
491,75 € (Excl. IVA)
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Información del producto
Fabricante3M
Referencia del fabricante923660-24
Código Farnell178283
También conocido comoGTIN UPC EAN: 00054007801023 80610336093
Hoja de datos técnicos
Resumen del producto
Integrated circuit test clips are useful in prototype and production testing, quality control inspection and field service. IC test clips are an indispensable tool for the electronics industry. They make in-circuit IC testing safer by providing easy access to IC leads for probes without danger of shorting out valuable chips.
- Heavy duty helical compression springs to provide firm and positive contact pressure
- Insulating contact comb to help prevent accidental shorts
- Patented wiping action to ensure integrity during testing
- Steel hinge pins and tough, glass filled polyster bodies
- 94V-0 UL rated, provide long service life
- 0.300inch body SOIC surface mount
- Lead count of 24, alloy gold plating
- Connector compatible with headless head
- Test devices down to 0.05inch centre to centre lead spacing
Documentos técnicos (1)
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Legislación y medioambiente
País de origen:
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producciónPaís de origen:United States
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producción
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producciónPaís de origen:United States
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producción
N.º de tarifa85366930
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
Conforme a RoHS:Sí
RoHS
Conforme a la directiva RoHS sobre de ftalatos:Sí
RoHS
Descargue el certificado de conformidad del producto
Certificado de conformidad del producto
Peso (kg):.026536