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CT4076-NA
DIFFERENTIAL PROBE, 100:1/1000:1, 35MHZ
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FabricanteCAL TEST ELECTRONICS
Referencia del fabricanteCT4076-NA
Código Farnell2850362
Hoja de datos técnicos
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Información del producto
FabricanteCAL TEST ELECTRONICS
Referencia del fabricanteCT4076-NA
Código Farnell2850362
Hoja de datos técnicos
Función de la Sonda del OsciloscopioHigh-Voltage Differential Probe
Ancho de Banda35MHz
Tensión de Entrada Máx.7.5kV
Atenuación de Sonda de Prueba100:1, 1000:1
Para Usar ConOscilloscopes
Gama de Producto-
Especificaciones técnicas
Función de la Sonda del Osciloscopio
High-Voltage Differential Probe
Tensión de Entrada Máx.
7.5kV
Para Usar Con
Oscilloscopes
Ancho de Banda
35MHz
Atenuación de Sonda de Prueba
100:1, 1000:1
Gama de Producto
-
Documentos técnicos (2)
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Legislación y medioambiente
País de origen:
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producciónPaís de origen:Taiwan
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producción
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producciónPaís de origen:Taiwan
País donde se realizó la mayor parte del proceso de producción
N.º de tarifa90309000
US ECCN:EAR99
EU ECCN:NLR
Conforme a RoHS:Sí
RoHS
Conforme a la directiva RoHS sobre de ftalatos:Sí
RoHS
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Certificado de conformidad del producto
Peso (kg):1.083197